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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)
產(chǎn)品分類(lèi)
●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置。 ●適用于粒徑測(cè)量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。
更新時(shí)間：2025-06-24
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：491
利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線(xiàn)提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。
更新時(shí)間：2025-06-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：427
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線(xiàn)圖案的圖案對(duì)齊 ●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對(duì)齊功能 ●小尺寸規(guī)格 ●高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元
更新時(shí)間：2025-06-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：496
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過(guò)自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。
更新時(shí)間：2025-06-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：7803
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
更新時(shí)間：2025-06-24產(chǎn)品型號(hào)：ELSZ-2000系列瀏覽量：6638
光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽(yáng)能電池等領(lǐng)域。
更新時(shí)間：2025-06-24產(chǎn)品型號(hào)：S-LBIC瀏覽量：1996公司郵箱： qgao@buybm.com
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